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蓝宝石衬底上单晶InN外延膜的RF-MBE生长
引用本文:肖红领,王晓亮,张南红,王军喜,刘宏新,韩勤,曾一平,李晋闽.蓝宝石衬底上单晶InN外延膜的RF-MBE生长[J].半导体学报,2005,26(6).
作者姓名:肖红领  王晓亮  张南红  王军喜  刘宏新  韩勤  曾一平  李晋闽
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京,100083
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划),国家高技术研究发展计划(863计划),国家自然科学基金
摘    要:采用低温氮化铟(InN)缓冲层,利用射频等离子体辅助分子束外延(RF-MBE)方法在蓝宝石衬底上获得了晶体质量较好的单晶InN外延膜.用光学显微镜观察所外延的InN单晶薄膜,表面无铟滴.InN(0002)双晶X射线衍射摇摆曲线的半高宽为14′;用原子力显微镜测得的表面平均粗糙度为3.3nm;Hall测量表明InN外延膜的室温背景电子浓度为3.3×1018cm-3,相应的电子迁移率为262cm2/(V·s).

关 键 词:RF-MBE  氮化铟  DCXRD  AFM

RF-MBE Growth of an InN Epilayer on Sapphire Substrate
Xiao Hongling,Wang Xiaoliang,Zhang Nanhong,Wang Junxi,LIU Hongxin,HAN Qin,Zeng Yiping,Li Jinmin.RF-MBE Growth of an InN Epilayer on Sapphire Substrate[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(6).
Authors:Xiao Hongling  Wang Xiaoliang  Zhang Nanhong  Wang Junxi  LIU Hongxin  HAN Qin  Zeng Yiping  Li Jinmin
Abstract:
Keywords:
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