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| 基于STG的测试精简 | |
| 引用本文： | 何新华,钱旭,蔡红柳. 基于STG的测试精简[J]. 测试技术学报, 2002, 16(Z1): 169-175 |
| 作者姓名： | 何新华 钱旭 蔡红柳 |
| 作者单位： | 装甲兵工程学院信息工程系,北京,100072 |
| 摘 要： | 通过对电路结构型固定故障与功能状态变换之间的分析,作者提出基于状态变换图(STG)的故障定义,并简要讨论了测试方法.最后,详细描述状态测试的过程压缩和故障精简问题. |
| 关 键 词： | 状态变换图(STG) 测试生成 压缩 状态序列 |
| 修稿时间： | 2002-03-23 |
STG-Based Test Generation Simplifying |
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| He Xinhua,Qian Xu,Cai Hongliu. STG-Based Test Generation Simplifying[J]. Journal of Test and Measurement Techol, 2002, 16(Z1): 169-175 | |
| Authors: | He Xinhua Qian Xu Cai Hongliu |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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