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大功率IGBT击穿故障分析及驱动保护电路设计
作者姓名:张广智  王琳琳  赵伟华  张伟光  李全熙
作者单位:1. 哈尔滨师范大学物理与电子工程学院,哈尔滨,150025
2. 91329部队装备部,264200
摘    要:该文通过对IGBT组成的H桥在大功率高速开关条件下进行大量实验,列举了IGBT发生击穿故障的多种原因,结合IGBT器件的结构分析其击穿过程及击穿表现,并通过计算提出了一种输出波形稳定的IGBT驱动电路以及相应的保护电路。

关 键 词:击穿  驱动  保护
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