基于微波辐射探测技术的绝缘子污秽检测试验 |
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引用本文: | 林秀钦,赵全香,吴沃生,梁家盛,汪芳宗.基于微波辐射探测技术的绝缘子污秽检测试验[J].广东电力,2013(7):74-77. |
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作者姓名: | 林秀钦 赵全香 吴沃生 梁家盛 汪芳宗 |
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作者单位: | 广东电网公司佛山供电局;三峡大学电气与新能源学院 |
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摘 要: | 绝缘子的污闪严重影响电力系统的安全运行,及时检测绝缘子的污秽程度可有效预防事故的发生。介绍了研制的基于微波辐射探测技术的绝缘子污秽带电检测仪,以及利用该检测仪对高压带电运行绝缘子的现场检测结果,并将检测结果与相应的等值盐密和等值灰密测量结果进行对比。初步的试验研究结果表明,所研制的绝缘子污秽检测装置可以用于高压带电绝缘子的污秽程度检测。
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关 键 词: | 绝缘子 污秽检测 微波辐射计 等值盐密 辐射亮温 |
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