MCs^+—SIMS技术及其应用 |
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作者姓名: | 岳瑞峰 徐传骧 |
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摘 要: | 强烈的基体效应一直是造成二次离了质谱(SIMS)难以定量分析和解释的主要原因,受其影响,常规SIMS,即M-SIMS(检测原子型二次离子M或M,M是要分析的元素)的适用范围受到了很大的限制,近几年来,上述状况已经通过一种新技术开发得到明显改善,这就是MCs-SIMS技术,即在Cs一次离子轰击睛检测分子型二次离子MCs而不是M。由于该技术明显减小甚至消除基体效应,从而开辟了SIMS定量分析的新途径,
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关 键 词: | 二次离子质谱 铯化物离子 定量分析 基体效应 |
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