| 基于正极性或-符合展开的易测性网络 |
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| 引用本文： | 潘张鑫,陈偕雄.基于正极性或-符合展开的易测性网络[J].浙江大学学报(理学版),2008,35(1):40-43. |
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| 作者姓名： | 潘张鑫 陈偕雄 |
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| 作者单位： | 浙江大学,信息与电子工程学系,浙江,杭州,310028 |
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| 摘 要： | 为提高数字电路的可测性，提出了可实现任意逻辑函数的正极性或-符合网络的易测性实现，并给出了测试网络中所有单固定故障的通用测试集．该实现基于逻辑函数的正极性或-符合展开，网络的同或部分分别采用了串联和树形结构．为提高可测性，同或串的实现结构只需增加1个控制端及1个观察端，同或树的实现结构只需增加3个控制端及1个观察端．对于1个n变量的逻辑函数，两种实现结构下通用测试集的基数分别为（n＋4）和（n＋5）．这样短的通用测试集非常适合用内建自测试实现，从而有效地缩短测试时间．
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| 关 键 词： | 通用测试集 可测性设计 或-符合展开 单固定故障 正极性 展开 性网络 expansion polarity positive based 测试时间 内建自测试 变量 控制端 实现结构 树形结构 串联 通用测试集 单固定故障 测试网络 易测性 逻辑函数 可测性 |
| 文章编号： | 1008-9497（2008）01-040-04 |
| 收稿时间： | 2006-07-28 |
| 修稿时间： | 2006年7月28日 |
Easily testable network based on positive polarity OR-Coincidence expansion |
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| PAN Zhang-xin,CHEN Xie-xiong.Easily testable network based on positive polarity OR-Coincidence expansion[J].Journal of Zhejiang University(Sciences Edition),2008,35(1):40-43. |
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| Authors: | PAN Zhang-xin CHEN Xie-xiong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | universal test set design for testing OR-Coincidence expansion single stuck-at faults |
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