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| ICP—AES测定高纯钨中杂质元素 | |
| 引用本文： | 范健,裘立奋.ICP—AES测定高纯钨中杂质元素[J].中南工业大学学报,1999,30(1):71-73. |
| 作者姓名： | 范健 裘立奋 |
| 作者单位： | [1]中南工业大学测试分析中心 [2]株洲硬质合金厂测试分析中心 |
| 摘 要： | 采用电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钨中的１４种杂质元素，并对１９种微量元素的基体效应和光谱干扰进行了研究，建立了ＩＣＰ－ＡＥＳ与基体分离及干扰系数校正相结合的方法，此法解决了钨在分析测定时的基体干扰问题，能快速、准确、同时测定高纯钨中１４种微量元素，回收率高于９０％，相对标准偏差为１％－６％，它为钨产品的检测提供了新的切实可行的分析手段。 |
| 关 键 词： | 微量元素 钨基体效应 光谱干扰 沉淀分离 |
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