| 等倾干涉条纹在SPR现象中的规律研究 |
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| 引用本文： | 蔡浩原,崔大付,向四海,李亚亭,王于杰,陈翔.等倾干涉条纹在SPR现象中的规律研究[J].仪表技术与传感器,2004(6):41-42,52. |
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| 作者姓名： | 蔡浩原 崔大付 向四海 李亚亭 王于杰 陈翔 |
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| 作者单位： | 中国科学院电子学研究所,传感技术国家重点实验室,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(39990570) |
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| 摘 要： | 对叠加在SPR曲线上的等倾干涉务纹的变化规律进行了研究。通过计算干涉条纹周期随入射角度的变化，发现干涉条纹周期在原SPR谐振角附近，存在着-个奇异的尖锐的突起，称之为SPR干涉谐振峰，尖峰所对应的入射角称为干涉谐振角θint-SPR．对于涉谐振角θint-SPR与敏感膜厚度和折射率的关系进行了计算与分析。理论计算表明：干涉谐振角θint-SPR与敏感膜厚度和折射率有着良好的线性关系，并与SPR谐振角θSPR的线性具有相同的量级，这说明可以通过测定干涉谐振角θint-SPR来检测金膜表面的生物分子相互作用，从而提出了一种确定SPR峰值移动的全新的方法。
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| 关 键 词： | 表面等离子体谐振 等倾干涉 干涉谐振角 |
| 文章编号： | 1002-1841(2004)06-0041-02 |
Regular Research of Light Interference in SPR Phenomenon |
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| CAI Hao-yuan,CUI Da-fu,XIANG Si-hai,LI Ya-ting,WANG Yu-jie,CHEN Xiangechnology.Regular Research of Light Interference in SPR Phenomenon[J].Instrument Technique and Sensor,2004(6):41-42,52. |
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| Authors: | CAI Hao-yuan CUI Da-fu XIANG Si-hai LI Ya-ting WANG Yu-jie CHEN Xiangechnology |
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| Affiliation: | CAI Hao-yuan,CUI Da-fu,XIANG Si-hai,LI Ya-ting,WANG Yu-jie,CHEN Xiangechnology,Institute of Electronics,CAS,Beijing 100080,China) |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Surface Plasmon Resonance(SPR) Light Interference Interference-SPR Angle |
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