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| 固体钽电容器损耗变化的原因及工艺改进 | |
| 引用本文： | 谢艺.固体钽电容器损耗变化的原因及工艺改进[J].电子元件与材料,1992,11(3):55-58. |
| 作者姓名： | 谢艺 |
| 作者单位： | 国营4321厂 |
| 摘 要： | 作者在研制非密封超小型固体钽电解电容器中,发现试制的50V/2.2μF样品在常温储存一段时间后,损耗明显上升,损耗角正切值变化极大,已影响产品的使用。经过一系列试验和分析,找出了损耗角正切值变大的内在原因。改进生产工艺后,试制出的50V/2.2μF样品的损耗角正切值不变,电性能稳定。 |
| 关 键 词： | 固体钽电容器 常温储存 损耗变化 原因分析 工艺改进 |
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