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激光和压电传感器密集型矩形阵列成像质量的比较分析
引用本文:刘增华,马春雷,陈洪磊,冯雪健,何存富,吴斌. 激光和压电传感器密集型矩形阵列成像质量的比较分析[J]. 北京工业大学学报, 2018, 44(8): 1075-1081. DOI: 10.11936/bjutxb2017050049
作者姓名:刘增华  马春雷  陈洪磊  冯雪健  何存富  吴斌
作者单位:北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,北京,100124;北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,北京,100124;北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,北京,100124;北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,北京,100124;北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,北京,100124;北京工业大学机械工程与应用电子技术学院,北京,100124
基金项目:国家自然科学基金资助项目(51475012;11272021),北京市属高等学校高层次人才引进与培养计划资助项目(CIT&TCD201304048)
摘    要:为了能够提高分辨率和信噪比,抑制旁瓣和栅瓣,提出了一种基于阵列数据相位差的成像方法.将压电传感器阵列和激光阵列分别与幅值成像和符号相干因子成像相结合对铝板中缺陷进行检测研究.采用连续小波变换对宽频带、低时域分辨率的激光Lamb波信号进行处理,得到特定频率下具有高时域分辨率的窄带信号.最后,结合幅值成像技术和符号相干因子成像技术对特定频率提取后的信号进行处理,实现铝板中缺陷的成像和定位.压电传感器阵列成像结果和激光阵列成像结果对比表明:充分利用激光阵列非接触、点聚焦的优点,能够有效地减少赝像,使得缺陷定位更加准确.

关 键 词:激光Lamb波  压电传感器  密集型矩形阵列  连续小波变换  符号相干因子成像

Comparison of Imaging Quality of Compact Rectangular Arrays Based on Laser and Piezoelectric Transducers
LIU Zenghua,MA Chunlei,CHEN Honglei,FENG Xuejian,HE Cunfu,WU Bin. Comparison of Imaging Quality of Compact Rectangular Arrays Based on Laser and Piezoelectric Transducers[J]. Journal of Beijing Polytechnic University, 2018, 44(8): 1075-1081. DOI: 10.11936/bjutxb2017050049
Authors:LIU Zenghua  MA Chunlei  CHEN Honglei  FENG Xuejian  HE Cunfu  WU Bin
Abstract:
Keywords:
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