| 二十四所集成电路设计/测试技术发展历程与展望 |
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| 引用本文： | 严顺炳,李儒章. 二十四所集成电路设计/测试技术发展历程与展望[J]. 微电子学, 2008, 38(1): 13-16 |
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| 作者姓名： | 严顺炳 李儒章 |
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| 作者单位： | 1. 模拟集成电路国家级重点实验室
2. 中国电子科技集团公司,第二十四研究所,重庆,400060 |
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| 摘 要： | 回顾了中国电子科技集团公司第二十四研究所各类模拟/混合信号集成电路设计/测试技术的发展历程,简述了二十四所照相制版和计算机辅助设计等从无到有的历程;最后,对二十四所集成电路设计、测试技术未来的发展进行了展望.
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| 关 键 词： | 模拟集成电路 混合信号集成电路 计算机辅助设计/测试 信号集成电路设计 测试技术 发展 Prospect Development Test Technology 技术未来 计算机辅助设计 照相制版 混合 模拟 研究所 科技集团 电子 中国 |
| 文章编号： | 1004-3365（2008）01-0013-04 |
| 收稿时间： | 2007-12-14 |
| 修稿时间： | 2008-01-12 |
Development and Prospect of SISC's IC Design and Test Technology |
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| YAN Shun-bing,LI Ru-zhang. Development and Prospect of SISC's IC Design and Test Technology[J]. Microelectronics, 2008, 38(1): 13-16 |
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| Authors: | YAN Shun-bing LI Ru-zhang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Analog IC Mixed signal IC CAD/CAT |
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