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X荧光光谱法测定烧结矿中SiO2等7个成分的含量
引用本文:侯金红,高良豪,刘磊.X荧光光谱法测定烧结矿中SiO2等7个成分的含量[J].光谱实验室,2003,20(4):601-604.
作者姓名:侯金红  高良豪  刘磊
作者单位:济南钢铁集团总公司技术监督处,济南市工业北路21号,250101
摘    要:本文采用粉末压片法制样,X荧光光谱法分析烧结矿中的TFe、SiO2、CaO、S、MgO、A12O3、P,建立的校准曲线线性较好,测定结果令人满意。

关 键 词:X荧光光谱法  测定  烧结矿  SiO2  含量  TFe  CaO  S  MgO  A12O3  P  粉末压片  二氧化硫  氧化钙  氧化镁    三氧化铝  
文章编号:1004-8138(2003)04-0601-04
修稿时间:2002年12月15

Determination of Seven Components in Sinter by X-ray Fluorescence Spectrometry
HOU Jin-Hong,GAO Liang-Hao,LIU Lei.Determination of Seven Components in Sinter by X-ray Fluorescence Spectrometry[J].Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory,2003,20(4):601-604.
Authors:HOU Jin-Hong  GAO Liang-Hao  LIU Lei
Abstract:The contents of TFe, SiO 2, CaO, S, MgO, Al 2O 3,P in sinter were determined by ARL9800XP XRF-XRD spectrometers in powder pressed samples.The linearity of work curve is very good and the results obtained are satisfactroy.
Keywords:XRF-XRD Spectrometry  Powder Pressed Sample  Sinter  
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