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DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
系统HDI板盲孔底部裂纹的研究分析
作者姓名:
马建
陈明星
曹磊磊
周斌
涂逊
作者单位:
重庆方正高密电子有限公司
摘 要:
随着高速PCB快速发展,材料多元化,叠构复杂化等特殊设计层出不穷,其中高速材料结合HDI(含Skip Via使不相邻层间直接连接的孔)产品设计与日俱增,逐渐成为业界高端产品主流设计;此类产品不仅线路更细,孔径更小,而且对产品可靠性要求也是越来越高。盲孔底部裂纹因欺骗性强,可侦测性低等因素显得尤为重要。文章从盲孔底部裂纹产生机理、风险流程、检验手段等维度进行研究分析,希望能为读者朋友提供一种解决此类问题的思路。
关 键 词:
高密度互连
盲孔底部裂纹
氧化反应
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