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采用高压RF-PECVD法制备高电导、高晶化率的p型微晶硅材料
引用本文:侯国付,薛俊明,袁育杰,张德坤,孙建,张建军,赵颖,耿新华.采用高压RF-PECVD法制备高电导、高晶化率的p型微晶硅材料[J].人工晶体学报,2007,36(1):85-88.
作者姓名:侯国付  薛俊明  袁育杰  张德坤  孙建  张建军  赵颖  耿新华
作者单位:南开大学光电子薄膜器件与技术研究所,天津,300071;光电子薄膜器件与技术天津市重点实验室,天津,300071;光电信息科学与技术教育部重点实验室(南开大学,天津大学),天津,300071
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划);天津市自然科学基金
摘    要:本文报道了采用高压射频等离子体增强化学气相沉积(RF-PECVD)方法制备高电导、高晶化率的p型微晶硅材料的结果.重点研究了反应压力和辉光功率对p型微晶硅材料结构和电学特性的影响.通过沉积参数的优化,在很薄的厚度(33nm)时,材料的暗电导率依然达到1.81S/cm,激活能达25meV,晶化率为57;.文中还对高压RF-PECVD能够制备p型微晶硅材料的生长机理和高电导机理进行了分析.

关 键 词:p型微晶硅  高压RF-PECVD  太阳电池  
文章编号:1000-985X(2007)01-0085-04
修稿时间:2006-08-28

High Conductive p-type Microcrystalline Silicon with High Crystallinity Prepared by High-pressure RF-PECVD
HOU Guo-fu,XUE Jun-ming,YUAN Yu-jie,ZHANG De-kun,SUN Jian,ZHANG Jian-jun,ZHAO Ying,GENG Xin-hua.High Conductive p-type Microcrystalline Silicon with High Crystallinity Prepared by High-pressure RF-PECVD[J].Journal of Synthetic Crystals,2007,36(1):85-88.
Authors:HOU Guo-fu  XUE Jun-ming  YUAN Yu-jie  ZHANG De-kun  SUN Jian  ZHANG Jian-jun  ZHAO Ying  GENG Xin-hua
Affiliation:Institute of Photo,electronics Thin Film Devices and Technique of Nankai University,Tianjin 300071, China; Key Laboratory of Photo-electronic Thin Film Devices and Technique of Tianjin, Tianjing 300071, China; Key Laboratory of Opto-electronic Information Science and Technology ( Nankai University, Tianjin University
Abstract:
Keywords:p-type microcrystalline silicon  high-pressure RF-PECVD  solar cell
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