首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     


Structural characterization of CdTe thin films developed on metallic substrates by close spaced sublimation
Authors:G. P. Hernández  X. Mathew  J. P. Enríquez  B. E. Morales  M. M. Lira  J. A. Toledo  A. S. Juárez  J. Campos
Affiliation:(1) Centro de Investigación en Energía-UNAM, 62580 Temixco, Morelos, México;(2) Departamento de Fisica, CINVESTAV-IPN, D.F, Mexico;(3) Coordinación de Ingeniería Molecular, IMP, D.F, México
Abstract:
Keywords:
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号