固态检测器—ICP—AES中的计算机差谱改进技术——I.原理和实验

本文使用固态检测器－光是二极管阵列（ＰＤＡ）或电荷耦合器件（ＣＣＤ）在ＩＣＰ－ＡＥＳ上实现了无需基体浓度情况下对复杂组分中微量元素进行测定的计算机差谱改进法。用Ｃ语言编实施差谱技术以及实验室例行分析的软件，探讨了方法的原理，对Ｖ基体中Ａｌ，Ａｌ和Ｍｇ基体中Ｖ的测定结果表明，该差谱技术能准确消除复杂基体产生的光谱干扰。