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| 引信电子零部件长贮加速寿命试验方法探讨 | |
| 引用本文： | 赵河明.引信电子零部件长贮加速寿命试验方法探讨[J].现代引信,1996(1):13-19. |
| 作者姓名： | 赵河明 |
| 摘 要： | 通过对影响引信电子零件长贮失效的主要环境因素（温度和湿度）分析，得出引信电子零部件长贮失效服从威布尔分布规律，单环境应力与双环境应力下分别满足阿伦尼斯和广义艾林模型，用恒定应力加速寿命试验方法，使温度和湿度相互作用加速效主尖等于零，推导出双环境应力下加速系数等于温度和湿度加速系数乘积。应用三组应力加速寿命试验的数据，计算出双环境应力下威布尔分布的形状参数，特征寿命，中位寿命等数值，从而估计出各种引 |
| 关 键 词： | 引信 电子零部件 加速寿命试验 失效判据 贮存 |
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