数字系统的测试码生成方案 |
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作者姓名: | 徐琛 罗文英 |
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作者单位: | 华东计算技术研究所(徐琛),华东计算技术研究所(罗文英) |
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摘 要: | 一、目的及一般概念 测试码生成的问题是数字系统故障诊断的重要部份。对于数字系统中的组合电路,国内有些单位已经获得比较好的介决。在国内,中规规集成电路已经开始组装大型数字计算机系统。我们的测试码生成方法是用来解决中规模组件组装的插件测试工作的。 本文讨论的问题是指数字系统中固定型单故障——固定“0”故障或固定”1”故障或组件输入端开路故障。采用的算法是J.P.ROTH提出的D算法-Ⅱ,并根据G.R.PUT-ZOLU和J.P.ROTH提出的迭代方式解决时序电路问题。
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