首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

退火温度对La0.8Bi0.2MnO3(LBMO)薄膜结构及性质的影响
引用本文:玉英,刘建,金永军.退火温度对La0.8Bi0.2MnO3(LBMO)薄膜结构及性质的影响[J].内蒙古大学学报(自然科学版),2009,40(4).
作者姓名:玉英  刘建  金永军
作者单位:1. 内蒙古大学物理科学与技术学院,呼和浩特,010021
2. 内蒙古工业大学理学院,呼和浩特,010051
基金项目:国家自然科学基金资助项目,内蒙古自然科学基金资助项目,内蒙古自治区教育厅高校研究项目 
摘    要:用射频磁控溅射方法在Si100]衬底上沉积了La0.8Bi0.2MnO3多晶薄膜,再在不同温度下进行退火热处理.使用XRD衍射仪、原子力显微镜(AFM)分别对薄膜微结构进行了表征,结果显示薄膜随着退火温度的升高逐渐晶化,晶体结构属于钙钛矿菱形结构;薄膜的表面致密、晶粒大小均匀,850 ℃退火的薄膜晶粒尺寸约40 nm 左右.薄膜的X射线光电子能谱(XPS) 测量表明薄膜中Bi 的价态为Bi3+和Bi5+.经过退火的薄膜在室温300 K、液氮77 K下都存在巨磁电阻效应.850 ℃退火的薄膜,温度为300 K和77 K、磁场为1.5 T条件下,磁电阻分别达到22.50%和26.98%.

关 键 词:巨磁电阻效应  薄膜  结构  掺杂

Influence of Annealing on Structure and Properties of La0.8Bi0.2MnO3 (LBMO) Thin Films
YU Ying,LIU Jian,JIN Yong-jun.Influence of Annealing on Structure and Properties of La0.8Bi0.2MnO3 (LBMO) Thin Films[J].Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Neimongol,2009,40(4).
Authors:YU Ying  LIU Jian  JIN Yong-jun
Abstract:
Keywords:La0  8Bi0  2MnO3
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号