首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

基于灰度的亚像素插值视觉测量方法
引用本文:戴宗贤,莫洪波,周勇,张震,尹爱军,梁子晓. 基于灰度的亚像素插值视觉测量方法[J]. 中国测试, 2019, 0(5): 33-37
作者姓名:戴宗贤  莫洪波  周勇  张震  尹爱军  梁子晓
作者单位:重庆市计量质量检测研究院;重庆大学机械工程学院
摘    要:针对现有视觉测量中的检测代价高,精度低和速度慢问题,该文提出一种基于计算机机器视觉的紧密内插值亚像素测量方法。该方法基于线性插值算法的原理,结合常规边缘检测方法和图像的灰度曲线图,利用阈值分割和标准长度进行亚像素自适应阈值选择。为验证该方法的有效性,对标准量块长度进行测量实验,并分析测量系统的误差影响因素。相比于传统的Canny算子方法检测结果,该方法的平均测量准确度提升46.2%。实验结果表明该算法的测量精度较高,可以快速、精确地测量出物体的几何尺寸。

关 键 词:视觉测量  尺寸测量  边缘检测  亚像素插值算法

A sub-pixel interpolation vision measurement method based on graph gray level
Abstract:
Keywords:
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号