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| 基于狭缝扫描的表面等离子体共振成像 | |
| 引用本文： | 高来勖,李松权,叶红安,书钢,蒋式弘,柳春郁,安旭.基于狭缝扫描的表面等离子体共振成像[J].光子学报,2014,43(6):611001. |
| 作者姓名： | 高来勖 李松权 叶红安 书钢 蒋式弘 柳春郁 安旭 |
| 作者单位： | 高来勖:黑龙江大学 电子工程学院 黑龙江省普通高等学校电子工程重点实验室, 哈尔滨 150080 李松权:黑龙江大学 电子工程学院 黑龙江省普通高等学校电子工程重点实验室, 哈尔滨 150080 叶红安:黑龙江大学 电子工程学院 黑龙江省普通高等学校电子工程重点实验室, 哈尔滨 150080 书钢:黑龙江大学 电子工程学院 黑龙江省普通高等学校电子工程重点实验室, 哈尔滨 150080 蒋式弘:圣安德鲁斯大学 物理系, 圣安德鲁斯, KY169SS 柳春郁:黑龙江大学 电子工程学院 黑龙江省普通高等学校电子工程重点实验室, 哈尔滨 150080 安旭:黑龙江大学 电子工程学院 黑龙江省普通高等学校电子工程重点实验室, 哈尔滨 150080 |
| 基金项目： | 黑龙江省教育厅海外学人项目(No.1251HD2002)、国家自然科学基金(No.61177079)、国家青年自然科学基金(No.61205071)、黑龙江省自然科学基金重点项目(No.ZD201103)和黑龙江大学青年科学基金(No.Q200820)资助 |
| 摘 要： | 利用表面等离子体共振技术进行电介质样品成像研究.采用高数值孔径显微物镜作为耦合元件,632.8nm He-Ne激光会聚激发金膜产生表面等离子体共振,通过狭缝光阑限制光束入射角,对金膜上的氮化硅光栅进行成像.反射光由放置在样品像方共轭面上的CCD摄像机接收,获得样品的表面等离子体共振像.通过扫描移动狭缝,得到入射角从44°至54°的扫描样品图像,从图像中提取样品各点的表面等离子体共振曲线,由计算机重构出样品的表面等离子体共振角谱灰度图. |
| 关 键 词： | 物理光学 表面等离子体共振 表面等离子体共振成像 显微物镜 |
| 收稿时间： | 2014/2/21 |
Surface Plasmon Resonance Imaging Based on Slit Scanning |
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| Abstract: | |
| Keywords: | Physical optics Surface Plasmon Resonance(SPR) Surface Plasmon Resonance Imaging(SPRI) Microscope objective |
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