| 双狭缝高分辨率紫外成像光谱仪光学系统设计 |
| |
| 引用本文： | 朱雨霁,尹达一,魏传新,陈永和. 双狭缝高分辨率紫外成像光谱仪光学系统设计[J]. 半导体光电, 2018, 39(4): 549-553 |
| |
| 作者姓名： | 朱雨霁 尹达一 魏传新 陈永和 |
| |
| 作者单位： | 中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海200083;中国科学院大学,北京100049;中国科学院上海技术物理研究所,上海200083;中国科学院红外探测与成像技术重点实验室,上海200083 |
| |
| 基金项目： | 国家自然科学基金项目(40776100)； |
| |
| 摘 要： | 在机载和星载领域,尤其是用于观测科学目标短期变化的应用领域,遥感平台逐步要求光谱仪在实现高分辨率的同时缩短重访时间。研究了基于Offner结构的紫外成像光谱系统,设计了一种工作波段为250~500nm、双狭缝均长50mm、双入射狭缝间隔为37mm、光谱分辨率为0.3nm的双缝高分辨率紫外成像光谱仪,并对设计结果进行了分析与评价。结果表明,这种紫外双缝成像光谱仪在41.67lp·mm-1处的传递函数达到0.76以上,实现接近衍射极限的优良成像质量,同时大大缩短了系统重访时间,提高了系统的信噪比,在保证高分辨率的同时缩小了系统体积和扫描镜口径,适合机载和星载遥感应用。
|
| 关 键 词： | 紫外 双入射狭缝 成像光谱仪 Offner光谱成像系统 高分辨率 |
| 收稿时间： | 2018-01-17 |
Design of Hyperspectral Resolution Ultraviolet Double-Slit Spectrometer System |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | ultraviolet double slits imaging spectrometer Offner spectral imaging system high resolution |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
| 点击此处可从《半导体光电》浏览原始摘要信息 |
|
点击此处可从《半导体光电》下载全文 |
|
