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SOC微处理器核测试技术研究
引用本文:于祥苓,李响.SOC微处理器核测试技术研究[J].微处理机,2008,29(4).
作者姓名:于祥苓  李响
作者单位:中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳,110032
摘    要:介绍了SOC中微处理器核的几种测试方法(并行测试法,串行测试法,测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法)和SOC微处理器核的调试支持,并着重介绍了其中测试接口控制器(TIC)法和内建自测试法两种方法的具体实现。

关 键 词:微处理器核  内建自测试  扫描

Brief Introduce Testing Technique of SOC Microprocessor Core
YU Xiang-ling,LI Xiang.Brief Introduce Testing Technique of SOC Microprocessor Core[J].Microprocessors,2008,29(4).
Authors:YU Xiang-ling  LI Xiang
Abstract:This paper introduces several testing techniques(parallel testing technique,serial testing technique,testing technique of testing interface controller(TIC) and build-in self testing technique)and debugging surport of SOC microprocessor core,furthermore emphasize concrete realizition of two testing techniques as testing technique of testing interface controller(TIC)and build-in self testing technique.
Keywords:Microprocessor core  BIST  Scan
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