| NaI(Tl)谱仪中反散射峰的影响因素研究 |
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| 引用本文： | 李根,魏凡,楼建玲.NaI(Tl)谱仪中反散射峰的影响因素研究[J].大学物理,2019,38(4):63-69. |
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| 作者姓名： | 李根 魏凡 楼建玲 |
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| 作者单位： | 北京大学物理学院核物理与核技术教学实验室,北京,100871;北京大学物理学院核物理与核技术教学实验室,北京,100871;北京大学物理学院核物理与核技术教学实验室,北京,100871 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金;理科基地资助 |
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| 摘 要： | 本文利用Geant4和分离变量的方法,模拟了衬底材料、以及闪烁体的包装材料对反散射峰计数大小的影响.使用不同衬底材料时,模拟产生的反散射峰与全能峰计数比例、不同材料的饱和厚度值,与实验结果一致.本文还模拟了反散射峰计数随着闪烁体包装材料的厚度,以及闪烁体的长度、横截面积和体积的变化关系,找到了抑制由此产生反散射峰本底的方法.
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| 关 键 词： | 康普顿散射 反散射峰 饱和厚度 GEANT4 |
Study of influence factors of backscattering peak in NaI (Tl) spectrometer with Geant4 |
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| LI Gen,WEI Fan,LOU Jian-ling.Study of influence factors of backscattering peak in NaI (Tl) spectrometer with Geant4[J].College Physics,2019,38(4):63-69. |
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| Authors: | LI Gen WEI Fan LOU Jian-ling |
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| Affiliation: | (Teaching Laboratory of Nuclear Physics and Nuclear Technology, School of Physics, Peking University, Beijing 100871, China) |
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| Abstract: | LI Gen;WEI Fan;LOU Jian-ling(Teaching Laboratory of Nuclear Physics and Nuclear Technology, School of Physics, Peking University, Beijing 100871, China) |
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| Keywords: | Compton scattering backscattering peak solid angle saturation thickness Geant4 |
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