首页 | 官方网站   微博 | 高级检索  
     

一种防闩锁的多嵌入阱SCR ESD器件
引用本文:侯佳力,胡毅,贺俊敏,王源.一种防闩锁的多嵌入阱SCR ESD器件[J].微电子学,2022,52(1):91-97.
作者姓名:侯佳力  胡毅  贺俊敏  王源
作者单位:北京智芯微电子科技有限公司, 北京 100192;北京大学 集成电路学院, 北京 100871;北京大学 集成电路学院, 北京 100871;北京大学 微电子器件与电路教育部重点实验室, 北京 100871
基金项目:国家电网有限公司总部管理科技项目资助(5100-201941436A-0-0-00)
摘    要:针对高压BCD工艺使用SCR器件ESD保护时面临的高触发电压与低维持电压之间的矛盾,设计了一种多嵌入阱可控硅(MEWSCR)结构。相比于常规SCR结构,首先,通过移动阳极/阴极的N+/P+掺杂区引入辅助泄放器件,MEWSCR结构实现了二次触发,增加了维持电压;其次,通过在阳极P+区和阴极N+区下方分别嵌入N浅阱和P浅阱,增强非平衡载流子的SRH复合作用,降低SCR的再生反馈效应,提高了维持电流。基于0.18 μm BCD工艺,采用TCAD软件进行模拟。结果表明,新型MEWSCR器件的维持电压提升至23 V,维持电流提升1 A以上,满足ESD设计窗口要求。

关 键 词:静电放电    硅控整流器    维持电压    闩锁
收稿时间:2021/8/15 0:00:00

A Latch-Up Immunity Multi-Embedded-Well SCR ESD Device
HOU Jiali,HU Yi,HE Junmin,WANG Yuan.A Latch-Up Immunity Multi-Embedded-Well SCR ESD Device[J].Microelectronics,2022,52(1):91-97.
Authors:HOU Jiali  HU Yi  HE Junmin  WANG Yuan
Affiliation:Beijing Smart-Chip Microelectronics Technology Co., Ltd., Beijing 100192,P.R.China;School of Integrated Circuits, Peking University, Beijing 100871, P.R.China; School of Integrated Circuits, Peking University, Beijing 100871, P.R.China;Key Laboratory of Microelectronics Devices and Circuits MoE, Beijing 100871, P.R.China
Abstract:
Keywords:
点击此处可从《微电子学》浏览原始摘要信息
点击此处可从《微电子学》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司    京ICP备09084417号-23

京公网安备 11010802026262号