用KX射线分析地质样品中的铀

应用半导体探测器和放射性同位素激发的 X 射线荧光法分析了地质样品中痕量铀。~(57)Co 激发源制成峰与本底比率高的形式。取10分钟测量时间,用强度为0.26×10~9贝克勒尔(0.26GB_q)的激发源,方法的检测限为24微克/克,源的强度增强10倍,检测限可提高到9微克/克左右。对于锡、铈、钨和钍的检测限亦作了测定。