嵌入式处理器的软件自测试研究

随着当今科技的发展,集成电路的功能日益强大,制造成本也控制在比较低的水平,与之相对的测试技术的成本却在不断地增加。很显然传统的测试技术已经不能满足当今高速SOC芯片的测试要求,开发新的测试技术已迫在眉睫。本文主要研究基于嵌入式处理器的软件的自测试方法,达到使用低成本的测试机实现高性能的芯片测试的目的。