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沉积条件对室温下磁控溅射AZO薄膜微结构与光电性能的影响
引用本文:莫敏静,刘哲,马紫腾,董志虎,刘雍,魏长伟,何春清.沉积条件对室温下磁控溅射AZO薄膜微结构与光电性能的影响[J].半导体光电,2022,43(3):561-566, 577.
作者姓名:莫敏静  刘哲  马紫腾  董志虎  刘雍  魏长伟  何春清
作者单位:武汉大学 物理科学与技术学院 湖北省核固体物理重点实验室, 武汉 430072;武汉长弢新材料有限公司, 武汉 430000
基金项目:国家重点研发计划项目(2019YFA0210003);国家自然科学基金项目(12075172,12074291,11875209).*通信作者:何春清E-mail:hecq@whu.edu.cn
摘    要:通过控制室温下射频磁控溅射过程中不同的氩气工作气压、溅射功率和沉积时间,在石英玻璃上沉积Al掺杂ZnO(AZO)薄膜,探究了三种工艺条件对制备的AZO薄膜的微结构及光电性能的影响。所制备的AZO薄膜经500℃退火后均为六方纤锌矿结构,具有优异的透明度,在可见光范围内的平均透过率均在86%以上。在气压0.25 Pa、功率200 W下,溅射时间为10 min时,薄膜的电阻率低至5.04×10-3Ω·cm,而溅射时间为15 min时,Haacke性能指数最优,为0.314×10-3Ω-1。结果表明,磁控溅射制备的AZO薄膜的晶体结构、方阻和透过率等特性与制备过程中的气压、功率和时间密切相关,通过评价性能指数可指导优化AZO薄膜的制备工艺。

关 键 词:AZO透明导电薄膜  射频磁控溅射  室温  气压  功率  沉积时间
收稿时间:2021/12/22 0:00:00

Effect of Deposition Conditions on Microstructure and Photoelectric Properties of AZO Films by Magnetron Sputtering at Room Temperature
MO Minjing,LIU Zhe,MA Ziteng,DONG Zhihu,LIU Yong,WEI Changwei,HE Chunqing.Effect of Deposition Conditions on Microstructure and Photoelectric Properties of AZO Films by Magnetron Sputtering at Room Temperature[J].Semiconductor Optoelectronics,2022,43(3):561-566, 577.
Authors:MO Minjing  LIU Zhe  MA Ziteng  DONG Zhihu  LIU Yong  WEI Changwei  HE Chunqing
Affiliation:Key Lab.of Nuclear Soild State Physics, School of Physics and Technol., Wuhan University, Wuhan 430072, CHN;WuHan Chamtop New Materials Co., Ltd., Wuhan 430000, CHN
Abstract:
Keywords:AZO transparent conductive film  RF magnetron sputtering  room temperature  pressure  power  deposition time
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