| 近红外光谱法测定HMX中α-HMX杂质晶型的含量 |
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| 引用本文： | 温晓燕,谯娟,刘红妮,苏鹏飞,石强,胡岚.近红外光谱法测定HMX中α-HMX杂质晶型的含量[J].火炸药学报,2016(3):61-65. |
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| 作者姓名： | 温晓燕 谯娟 刘红妮 苏鹏飞 石强 胡岚 |
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| 作者单位： | 西安近代化学研究所,陕西西安,710065 |
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| 基金项目： | 国防科工局基础科研项目(Z092013 T 003) |
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| 摘 要： | 为了快速检测HMX中杂质晶型α-HMX的含量,在制备建模样品的基础上,利用近红外光谱技术,采用偏最小二乘法建立了HMX光谱与其α-HMX杂质晶型含量的计算模型。讨论了建模样品的代表性、模型光谱范围的选择及模型的优化过程。结果表明,模型具有广泛代表性,最佳光谱范围为6 476~6 446cm-1和4 602~4 424cm-1,交互验证决定系数(R2)为0.996,参考值交互验证残差均方根(RMSECV)为0.20%;外部验证的残差均方根(RMSEP)为0.27%;该法误差均小于0.13%,标准偏差为0.1%;近红外光谱法操作简单、快速、无损、绿色环保,可用于HMX中α-HMX杂质晶型含量的检测。
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| 关 键 词： | 分析化学 杂质晶型 偏最小二乘法 近红外光谱技术 HMX α-HMX |
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