温度和频率对互连线信号完整性的影响 |
| |
作者姓名: | 魏建军 王振源 陈付龙 刘乃安 李晓辉 韦娟 |
| |
作者单位: | 西安电子科技大学 通信工程学院,陕西 西安,710071;安徽师范大学 数学计算机科学学院,安徽 芜湖,241003 |
| |
基金项目: | 国家自然科学基金;陕西省自然科学基础研究计划;新教师创新基金 |
| |
摘 要: | 针对VLSI中的互连线信号完整性问题,研究温度和频率对电阻、电感和电容的影响。在温度和频率的作用下,采用多节RLC模型,分别探讨温度和频率对互连线电学特性的影响,研究互连线的信号完整性问题。结果表明:在温度和频率的双重影响下,对温度和频率比较敏感的第5层互连线,在信号上升时间为0. 05 ns,负载是0. 1pF电容时,信号的延迟比没有考虑温度和频率影响时的延迟多121 ps;当负载是电阻时,延迟变化不大。温度对串扰的影响较小,频率对串扰的影响较大,在温度和频率的双重影响下,阻性负载时远端串扰变大,近端串扰变小,而容性负载时近端串扰和远端串扰都变小。
|
关 键 词: | 温度 频率 趋肤效应 延迟 串扰 信号完整性 互连线 阻性负载 容性负载 |
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录! |
|