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X射线衍射法测定聚酰亚胺薄膜结晶度的研究

作者姓名：	唐曾仁王小左韦春

作者单位：	哈尔滨电工学院化学教研室，哈尔滨电工学院，哈尔滨电工学院绝缘材料专业七七级，绝缘材料专业七七级

摘要：	本文从用X射线衍射法测定聚酰亚胺薄膜结晶度出发,提出高聚物薄膜制品结晶度定量测定简便有效的一种方法和表观结晶度的概念。测定了美国和国产薄膜的结晶度,探索了结晶度与性能的关系。并对目前我国聚酰胺薄膜的生产工艺的改进和提高产品质量提供了理论依据。
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