| 一种改进的SRAM故障内建自检测算法 |
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| 引用本文： | 曾健平,王振宇,袁甲,彭伟,曾云.一种改进的SRAM故障内建自检测算法[J].湖南大学学报(自然科学版),2019,46(4):97-101. |
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| 作者姓名： | 曾健平 王振宇 袁甲 彭伟 曾云 |
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| 作者单位： | 湖南大学物理与微电子科学学院,湖南长沙,410000;中国科学院微电子研究所,北京,100029 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金;湖南省自然科学基金;长沙市科技计划 |
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| 摘 要： | 面向March C+算法故障覆盖率的问题,本文提出一种改进的March CS算法来完成存储器SRAM的内建自测试.通过增加原算法元素的读写操作来敏化存储单元的故障,检测原算法不能敏化的静态故障和动态故障,从而提高故障覆盖率.最后,通过对1 024*32位静态随机存储器进行故障仿真验证,以及FPGA对SRAM芯片的应用性测试,March CS算法检测静态故障和动态故障的覆盖率分别达到91.67%和76.93%.
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| 关 键 词： | March CS算法 静态故障 动态故障 故障覆盖率 |
An Improved SRAM Fault Built-in-self-test Algorithm |
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