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基于遗传算法的数字电路试生成方法
作者姓名:潘中良
摘    要:本文提出了一种基于遗传算法的数字电路测试图形生成方法,首先把被测电路的门细描述转化为易于计算的非线性网络,然后用遗传算法找到网络能量函数的最优解,从而得以被测电路的测试集。

关 键 词:数字电路 测试生成 遗传算法
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