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| 多波束多波位相控阵自动测试系统设计 | |
| 作者姓名： | 龙永刚 |
| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所,合肥230088 |
| 摘 要： | 相控阵天线暗室测试是相控阵天线研制过程中重要的环节之一.为解决多波束相控阵天线近场测试耗时长效率低的现状以及测试系统普适性差的问题,设计了一种用于多波束多波位相控阵自动测试系统,该测试系统采用可扩展接口设计和功能模块化设计以便于系统升级和适配.根据该测试系统的组成,给出了校准测试、近场扫描测试的流程以及测试时序优化和软件设计思路.利用多波束相控阵天线对测试系统进行了测试性能分析,与单步测试相比,方向图扫描精度与单步测试基本一致,测试效率提升显著,对多波束相控阵天线暗室测试具有较好的适用性. |
| 关 键 词： | 多波束相控阵 校准测试 近场扫描测试 方向图 |
Design of multi-beam and multi-beam position phased array automatic test system |
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| Authors: | LONG Yonggang |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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