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间歇模原子力显微镜扫描探针的受迫振动解
引用本文:邵继红,吴昆裕.间歇模原子力显微镜扫描探针的受迫振动解[J].安徽理工大学学报(自然科学版),2002,22(1):59-61.
作者姓名:邵继红  吴昆裕
作者单位:1. 淮南工业学院数理系,安徽,淮南,232001
2. 中国科学技术大学电子工程与信息科学系,安徽,合肥,230026
摘    要:提出了一个间隙模原子力显微镜全动态工作的模型 ,用参数变换和模式展开方法 ,得到了具有粘滞阻尼和分段线性相互作用力的扫描探针的受迫弯曲振动微分方程的分析解 ,间歇模原子力显微镜扫描探针的受迫振动解 ,由接触模解和非接触模解交替工作而构成

关 键 词:弯曲振动  悬臂梁  间歇模  原子力显微镜
文章编号:1671-0932(2002)01-0059-03
修稿时间:2001年1月16日

The solution of forced vibration of cantilever beam of tapping mode atomic force microscopy
SHAO Ji Hong ,WU Kun yu.The solution of forced vibration of cantilever beam of tapping mode atomic force microscopy[J].Journal of Anhui University of Science and Technology:Natural Science,2002,22(1):59-61.
Authors:SHAO Ji Hong  WU Kun yu
Affiliation:SHAO Ji Hong 1,WU Kun yu 2
Abstract:A cantilever beam model in the fully dynamic tapping mode atomic force microscopy (AFM) was presented. An analytical solution for the vibration differential equation of the cantilever beam with viscous damping and piece wise linear interaction force was found by using the method of parameter transformation and mode expansion theorem. The vibration analytical solution of the cantilever beam of tapping mode AFM is combined with contact mode solution and noncontact mode solution in turn.
Keywords:flexural vibration  cantilever beam  tapping mode  atomic force microscopy
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