| 一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成 |
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| 引用本文： | 胡晨,许舸夫,张哲,杨军.一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成[J].电路与系统学报,2002,7(3):13-16. |
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| 作者姓名： | 胡晨 许舸夫 张哲 杨军 |
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| 作者单位： | 东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏,南京,210096 |
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| 摘 要： | 本文提出了一种基于受控线性反馈移位寄存器（LFSR）进行内建自测试的结构及其测试矢量生成方法。使用受控LFSR可以跳过伪随机测试序列中对故障覆盖率没有贡献的测试矢量，众而达到减少测试矢量长度，缩短测试时间的目的。
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| 关 键 词： | 线性反馈移位寄存器 内建自测试 矢量跳变 芯片 矢量生成电路 |
| 文章编号： | 1007-0249(2002)03-0013-04 |
| 修稿时间： | 2001年7月18日 |
BIST Structure and Test Vector Generation Based on a Controlled LFSR |
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| HU Chen,XU Ge-fu,ZHANG Zhe,YANG Jun.BIST Structure and Test Vector Generation Based on a Controlled LFSR[J].Journal of Circuits and Systems,2002,7(3):13-16. |
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| Authors: | HU Chen XU Ge-fu ZHANG Zhe YANG Jun |
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| Abstract: | A new BIST structure with the method of test vector generation based on a controlled LFSR is proposed. BIST with a controlled LFSR can skip pseudo-random test vectors not contributing to the fault coverage, thus the length of test vectors and the time of test are reduced. |
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| Keywords: | Linear Feedback Shift Register (LFSR) Built-in Self-test (BIST) vector leap |
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