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| 一种基于频谱特征的周期性结构参数检测方法 | |
| 作者姓名： | 宋斌 闫宁 朱琳琳 张效栋 |
| 作者单位： | 天津大学精密仪器与光电子工程学院精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072;天津大学精密仪器与光电子工程学院精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津300072 |
| 基金项目： | 科学挑战专题;国家重点研发计划 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | 图像处理 频谱特征 周期性结构 参数检测 |
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