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| 集成电路故障测试研究 | |
| 引用本文： | 吴周勇.集成电路故障测试研究[J].科技资讯,2008(9):73-74. |
| 作者姓名： | 吴周勇 |
| 作者单位： | 中国计量学院计量测试工程学院,浙江杭州,310018 |
| 摘 要： | 基于固定型故障模型的传统电压测试技术是一种应用最广、最为重要的测试技术,且已经应用多年。但是随着集成电路日新月异地发展,电压测试技术越来越不能完全满足高性能IC,特别是高性能数字CMOSIC发展的需求。为了提高故障覆盖率和降低测试成本,本文探讨了一些方法的可行性。 |
| 关 键 词： | 全速电流测试 微处理器测试 赋值判决图 指令序列 测试生成 |
| 文章编号： | 1672-3791(2008)03(c)-0073-02 |
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