|
|||||
|
|
| α—Al2O3衬底上生长的GaN膜的光学性质 | |
| 引用本文： | 杨凯,黄振春.α—Al2O3衬底上生长的GaN膜的光学性质[J].高技术通讯,1996,6(10):29-31. |
| 作者姓名： | 杨凯 黄振春 |
| 作者单位： | [1]南京大学物理系 [2]美国马里兰大学电子工程系 |
| 摘 要： | 采用金属有机化学气相淀积方法生长了α－Ａｌ２Ｏ３衬底上外延的高质量的单晶ＧａＮ薄膜。Ｘ射线衍射光谱与喇曼散射光谱表征了ＧａＮ外延薄膜的单晶结构和单晶质量。透射光谱和光调制反射光谱定出了六角单晶ＧａＮ薄膜的直接带隙宽度和光学参数。 |
| 关 键 词： | α－Al2O3 薄膜 光学性质 三氧化二铝 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
