|
|||||
|
|
| 退火Ge－Au／Au双层膜中出现的缩聚型分形 | |
| 引用本文： | 巴龙,张庶元,吴自勤.退火Ge－Au／Au双层膜中出现的缩聚型分形[J].电子显微学报,1994(3). |
| 作者姓名： | 巴龙 张庶元 吴自勤 |
| 作者单位： | 中国科技大学基础物理中心，中国科技大学结构分析开放实验室 |
| 摘 要： | 利用透射电子显微镜观察了不同温度下退火的Ｇｅ－２２ａｔ．％Ａｕ／Ａｕ双层膜，原态双层膜由Ｇｅ．Ａｕ多晶相和少量Ｇｅ＿（０．４）Ａｕ＿（０．６）亚稳相组成，其中Ａｕ的晶粒很不均匀，没有观察到非晶态Ｇｅ。６０℃至３５０℃退火后均能出现分形图形，但和非晶Ｇｅ晶化形成的多枝叉形貌显著不同。温度升高，分维数增大。认为Ｇｅ－Ａｕ／Ａｕ双层膜中较粗大的Ａｕ晶粒吸收Ａｕ小晶粒引起的缩聚是形成分形的主要原因。 |
| 关 键 词： | 薄膜，分形，分数维 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
