0.13μm铜互连工艺鼓包状缺陷问题的解决 |
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作者姓名: | 张磊 朱亦鸣 |
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作者单位: | 1. 上海交通大学微电子学院,上海200240 2. 中芯国际半导体制造有限公司工艺集成部,上海201203 3. 上海理工大学上海市现代光学系统重点实验室,上海200093 |
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摘 要: | 传统集成电路制造工艺主要采用铝作为金属互连材料,但是随着晶体管尺寸越来越小,在0.13μm及以上制程中,一般采用铜大马士革互连工艺来提高器件的可靠性。铜互连工艺中需要用氮化硅作为穿孔图形蚀刻的阻挡层,由于氮化硅材质具有很强的应力,再加上制程中的热反应和蚀刻效应就会造成氮化硅层从界面掀起从而形成一种鼓包状缺陷(bubble defect)。文章通过调整并控制铜金属连线层间氧化电介质层的蚀刻速率,改变有机介质层(BARC)的沉积方法,以及改进产品的电路设计的检验规则,从而解决鼓包状缺陷的产生,降低产品芯片的报废率,提高产品的良率。
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关 键 词: | 铜互连 鼓包缺陷 氮化硅 |
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