| 二次剥离法~(26)Al的AMS测量 |
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| 引用本文： | 王慧娟,管永精,鞠志萍,阮向东,何明,王伟,刘建成,姜山,吴伟明. 二次剥离法~(26)Al的AMS测量[J]. 核电子学与探测技术, 2010, 30(5) |
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| 作者姓名： | 王慧娟 管永精 鞠志萍 阮向东 何明 王伟 刘建成 姜山 吴伟明 |
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| 作者单位： | 1. 广西大学物理科学与工程技术学院,南宁,530004
2. 中国原子能科学研究院核物理研究所,北京,102413 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目，广西大学科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 在中国原子能科学研究院HI-13串列加速器上使用Q3D磁谱仪用二次剥离法对26Al进行了AMS测量。结果表明,二次剥离法能有效抑制26Mg的干扰,同时又可以获得较强的束流,从而提高测量效率。在初步的实验中,26Al/27Al的探测限已达到4×10-14。对实验结果进行了分析,提出了进一步提高测量灵敏度的措施。
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| 关 键 词： | 加速器质谱 二次剥离 同量异位素 |
AMS Measurement of 26Al by Second Stripping Method |
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| WANG Hui-juan,GUAN Yong-jing,JU Zhi-ping,RUAN Xiang-dong,HE Ming,WANG Wei,LIU Jiang-cheng,JIANG Shan,WU Wei-ming. AMS Measurement of 26Al by Second Stripping Method[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 2010, 30(5) |
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| Authors: | WANG Hui-juan GUAN Yong-jing JU Zhi-ping RUAN Xiang-dong HE Ming WANG Wei LIU Jiang-cheng JIANG Shan WU Wei-ming |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | 26Al |
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