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MgxZn1-xO薄膜的结构特性研究
引用本文:张锡健,马洪磊,王卿璞,马瑾. MgxZn1-xO薄膜的结构特性研究[J]. 无机材料学报, 2006, 21(1): 235-238
作者姓名:张锡健  马洪磊  王卿璞  马瑾
作者单位:山东大学物理与微电子学院,济南,250100
基金项目:高等学校博士学科点专项科研项目
摘    要:采用射频磁控溅射法在80℃衬底温度下制备了MgxZn1-xO(x=0.23)薄膜,用X射线衍射(XRD)、高分辨透射电镜(HRTEM)、喇曼(Raman)光谱和原子力显微镜(AFM)研究了薄膜的结构特性.XRD和HRTEM分析结果表明MgxZn1-xO薄膜为单相六角纤锌矿结构,且具有沿c轴的择优取向,晶格常数与ZnO晶体的近似相等.Raman光谱不仅揭示MgxZn1-xO薄膜具有六角纤锌矿结构,而且也表明MgxZn1-xO薄膜的结晶质量比在相同条件下制备的ZnO薄膜好.AFM图像则显示出MgxZn1-xO薄膜为多晶结构.

关 键 词:射频磁控溅射  结构特性
文章编号:1000-324X(2006)01-0235-04
收稿时间:2005-01-05
修稿时间:2005-01-052005-02-23

Structure Properties of MgxZn1-xO Films
ZHANG Xi-Jian,MA Hong-Lei,WANG Qing-Pu,MA Jin. Structure Properties of MgxZn1-xO Films[J]. Journal of Inorganic Materials, 2006, 21(1): 235-238
Authors:ZHANG Xi-Jian  MA Hong-Lei  WANG Qing-Pu  MA Jin
Affiliation:School of Physics and Microelectronics, Shandong University, Jinan 250100, China
Abstract:
Keywords:MgxZn1-xO
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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