| 第一届日美纳米技术工具和测量学研讨会简介 |
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| 引用本文： | 王忠祥. 第一届日美纳米技术工具和测量学研讨会简介[J]. 现代科学仪器, 2003, 0(5): 68-70 |
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| 作者姓名： | 王忠祥 |
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| 作者单位： | 北京市理化分析测试中心,北京,100089 |
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| 摘 要： | 1 研讨会背景和总体情况介绍第一届日本 -美国纳米技术工具和测量学研讨会于 2 0 0 3年 1月 2 1～ 2 4日在美国康乃尔大学举行。这次研讨会是由日本教育、文化、体育和科技部(MEXT)与美国国家科学基金 (NSF)共同资助的 ,其目的是在纳米起巨大作用的广大领域 (如生物学、化学、电子学、力学、材料学、光学 )内 ,对用于创造、分析、测量、再现和重复论证的工具方面的创新进行一次评定性的研讨。研讨会采取讨论和辨论的形式 ,并以一系列学科中纳米尺度上的高级研究为导向。这些学科是生物学、化学、电子学、机械学、材料、光学及其交叉学科…
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| 关 键 词： | 工具 测量学 纳米技术 研讨会 NSF MEXT 日本 美国 |
| 修稿时间： | 2003-07-09 |
A Brief Introduction to the First Japan-US Symposium on Tools and Metrology for Nanotechnology |
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