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| 同步辐射X射线荧光分析 | |
| 引用本文： | 肖延安,李学军.同步辐射X射线荧光分析[J].现代物理知识,1992,4(4):23-27. |
| 作者姓名： | 肖延安 李学军 |
| 摘 要： | 近二、三十年来,X射线荧光分析(简称XRF)已成为物质中元素含量分析的基本手段,已广泛应用于物理、化学、生物、医学、法学、地学、材料科学等学科及工农业生产中.XRF是用X射线激发样品,并检测从样品中发射出的元素之特征X射线强度,分析样品中元素的含量.所谓特征X射线,是指每种元素的原子受激后会发射特定能量的X射线,它们是不连续的,是各自分立的.当原子内壳层中的电子受外来粒子作用而电离后,就会在内壳层留下一个空穴,于是较外层的电子就会跃迁到这个空穴,这就是所谓的退激发过程. |
| 关 键 词： | 同步辐射X射线荧光 同步辐射光 特征x射线 x射线荧光分析 元素 吸收边 退激发 最低检测限 内壳层 零价 |
| 收稿时间： | 1991-07-16; |
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