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近场光学显微镜观察到纳米尺度的折射率变化
引用本文:李银安.近场光学显微镜观察到纳米尺度的折射率变化[J].物理,2001,30(10):621-621.
作者姓名:李银安
摘    要:日本京都大学研究人员用近场光学显微镜(NSOM)在透明的聚合物膜上制作了纳米尺度的折射率图样 ,而薄膜的透明度及表面形态均未受到严重影响 .实验中用的是 3μm厚的聚合物薄膜 ,它是用自转镀层法在甲苯溶液中把在聚合物 (异丁烯酸甲脂methylmethacrylate)中掺杂的 3 苯基 2 ,5 诺卜拿丁 2羧酸 (3 phenyl 2 ,5 norbornadiene 2 carboxylicacid)镀到盖板玻璃片上而成的 .折射率图样是用照明模式NSOM设备制作的 ,该设备具有一个剪切力尖端取样距离调节功能 ,以及一个锥形探…

关 键 词:近场光学显微镜  纳米尺度  折射率  薄膜
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