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| 用轮廓法测量带基表面粗糙度 | |
| 作者姓名： | 霍琼宗 |
| 作者单位： | 杭州磁带厂 |
| 摘 要： | <正> 一、前言磁带带基的表面粗糙度,不但影响磁带的走带性能,而且还影响磁带的电磁变换性能。不同记录密度的磁带,使用表面粗糙度不同的的带基(1)。因此,测量带基的表面粗糙度,已成为带基质量控制不可缺少的环节。精密测量表面粗糙度的方法,主要有轮廓 |
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