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基体温度对中频磁控溅射制备的氧化锌镓薄膜性能的影响
引用本文:赵方红,庄大明,张弓,姬杨玲.基体温度对中频磁控溅射制备的氧化锌镓薄膜性能的影响[J].真空科学与技术学报,2006,26(5):404-407.
作者姓名:赵方红  庄大明  张弓  姬杨玲
作者单位:清华大学机械工程系,北京,100084
摘    要:利用中频磁控溅射方法,溅射Ga2O3含量为5.7 wt.%的氧化锌镓陶瓷靶材,在不同的基体温度下制备了ZGO薄膜。研究了基体温度对ZGO薄膜的晶体结构、电学和光学性能的影响。结果表明:基体温度对薄膜的晶体结构、近红外反射率和透射率曲线以及薄膜的导电性能有较大影响。当基体温度为400℃,溅射功率密度为2.93 W/cm2,氩气压力为0.5 Pa时,薄膜的电阻率低达4.5×10-4Ω.cm,方块电阻为13Ω,平均可见光(λ=400 nm~800 nm)透射率高于90%。

关 键 词:基体温度  ZGO薄膜  磁控溅射  电阻率  透射率
文章编号:1672-7126(2006)05-404-04
收稿时间:2006-02-13
修稿时间:2006年2月13日

Influences of Substrate Temperature on Properties of ZGO Thin Films Prepared by Middle-frequency Alternative Magnetron Sputtering
Zhao Fanghong,Zhuang Daming,Zhang Gong,Ji Yangling.Influences of Substrate Temperature on Properties of ZGO Thin Films Prepared by Middle-frequency Alternative Magnetron Sputtering[J].JOurnal of Vacuum Science and Technology,2006,26(5):404-407.
Authors:Zhao Fanghong  Zhuang Daming  Zhang Gong  Ji Yangling
Abstract:
Keywords:Substrate temperature  ZGO thin film  Magnetron sputtering  Resistivity  Transmittance
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