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溶胶凝胶法制备以Al_2O_3为界面修饰层的铪铟锌氧薄膜晶体管
引用本文:高娅娜,许云龙,张建华,李喜峰.溶胶凝胶法制备以Al_2O_3为界面修饰层的铪铟锌氧薄膜晶体管[J].发光学报,2016(1):50-55.
作者姓名:高娅娜  许云龙  张建华  李喜峰
作者单位:1. 上海大学材料科学与工程学院,上海200072;上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室,上海200072;2. 上海大学新型显示技术及应用集成教育部重点实验室,上海,200072
基金项目:国家高技术研究发展计划(863)(2015AA033406),广东省省级科技计划(2015B090915001),上海科学技术委员会项目(13520500200)
摘    要:利用溶液法制备了以HfSiOx为绝缘层、HfInZnO为有源层、Al_2O_3为界面修饰层的TFT器件。HfSiOx薄膜经Al_2O_3薄膜修饰后,薄膜表面粗糙度从0.24nm降低至0.16nm。Al2O3薄膜与HfSiOx薄膜之间的界面接触良好,以Al_2O_3为界面修饰层的TFT器件整体性能得到提升,具体表现为:栅极电压正向和反向扫描过程中产生的阈值电压漂移显著减小,器件的阈值电压和亚阈值摆幅降低,迁移率与开关比增大。研究证明,溶液法制备Al_2O_3薄膜适合作为改善器件性能的界面修饰层。

关 键 词:溶液法  薄膜晶体管  界面修饰层Al2O3

Solution Processed HfInZnO Thin Film Transistors with HfSiOx Dielectrics Modified by Al2O3 Films
Abstract:
Keywords:solution process  thin film transistors  modification layer Al2O3
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