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| 材料光谱发射率精密测量装置 | |
| 引用本文： | 原遵东,张俊祺,赵军,梁宇,段宇宁.材料光谱发射率精密测量装置[J].仪器仪表学报,2008,29(8). |
| 作者姓名： | 原遵东 张俊祺 赵军 梁宇 段宇宁 |
| 作者单位： | 1. 中国计量科学研究院,北京,100013 2. 天津大学,天津,300072 |
| 摘 要： | 采用光栅单色仪方案研究了光谱发射率的测量装置,以加热方式将材料样品温度控制在473～1 000 K,可在2～15 μm测量样品的定向光谱发射率.应用锁相放大技术和统计测量方法提高样品与黑体的辐射亮度比较测量的信噪比.对测量装置性能进行了评价实验,并提出一种双黑体法评价光谱辐射测量系统的线性度.测量了氧化不锈钢样品和高发射率涂料的光谱发射率并进行了不确定度评定,合成标准不确定度小于0.04. |
| 关 键 词： | 光谱发射率 测量 线性度 双黑体法 不确定度 |
Precision measurement facility of material spectral emissivity |
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